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利用磁光效應(yīng)可視化磁場技術(shù)
使用磁光效應(yīng)可視化磁場的簡單方法是在光源和樣品前后放置兩個偏振器，如圖 2 所示。
這兩個偏振器通常稱為樣品前面的偏振器和后面的檢偏器。使用法拉第旋轉(zhuǎn)角、偏振器角度和分析器角度確定通過樣品和分析器的光強度
表示為
圖 3 是繪制了當偏振器角度為 0 度時光強度與分析器角度的關(guān)系圖。當偏振器和檢偏器之間的角度設(shè)置為 90 度時，即正交條件，光強度取局部最小值。此時，當偏振面因法拉第效應(yīng)而旋轉(zhuǎn)時，透射光的強度增加。因此，在觀察磁疇時，將檢偏器的角度從90度偏移數(shù)度，即可得到法拉第轉(zhuǎn)角的正負，作為明暗對比。
這種方法被稱為正交檢偏器法，因為起偏器和檢偏器幾乎成90度。在測量橢圓率時，使用所謂的磁圓二色性，它對順時針和逆時針旋轉(zhuǎn)具有不同的吸收。在這種情況下，簡單的光學系統(tǒng)是光源和圓偏振器（或偏振器和四分之一波片）。
以磁疇的觀察為例進行具體說明。圖 4 解釋了使用法拉第旋轉(zhuǎn)角和法拉第橢圓率的磁疇結(jié)構(gòu)方法的原理。
在(a)的法拉第旋轉(zhuǎn)角的情況下，當入射直線偏振光時，偏振面根據(jù)磁疇的方向左右旋轉(zhuǎn)并透射。此時，如果將檢偏器配置為阻擋透過一個磁疇的光，則可以透過透過相反磁疇的光的偏振面。結(jié)果，可以通過明暗觀察磁疇的方向。
另一方面，當使用(b)的橢圓率時，當入射光為圓偏振時，磁疇被觀察為明暗對比，因為吸收取決于磁化方向而不同。在這種情況下，不需要分析器，如圖所示。然而，在這種狀態(tài)下，對比度通常較低，因為它僅測量吸收強度。因此，為了獲得高對比度，需要用左右圓偏振光獲取圖像并取差值。
一種利用磁光效應(yīng)使磁場可視化的薄膜材料。我們有以下產(chǎn)品。
高殘留型是即使去除對MO成像板施加的磁場，可視化的磁場圖像也殘留的類型。
