掃描電鏡SEM測試中噴金儀的作用分析

發(fā)布日期：2023-10-19      瀏覽次數(shù)：1187

掃描電鏡SEM測試中噴金儀的作用分析

掃描電鏡幾乎可以對所有類型的樣品進(jìn)行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要同學(xué)們進(jìn)行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個(gè)額外的導(dǎo)電薄層材料，如金、銀、鉑或鉻等。

市面上任何一款電鏡都無法噴金。對樣品噴金需要一種專門的設(shè)備——離子濺射儀。



MSP-1S

該設(shè)備專用于貴金屬薄膜鍍膜，用于SEM觀察。這是一種用貴金屬涂覆 SEM 樣品以防止充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的裝置。除了使用磁控管靶電極進(jìn)行低壓放電外，還將樣品臺制成浮動(dòng)式，以減少電子束流入對樣品造成的損壞。操作簡單，按一下按鈕即可，沒有任何技巧。它很小，不占用太多空間。它放在辦公桌的一角會(huì)很有用。
用途
這是用于SEM樣品的金屬鍍膜裝置。

主要產(chǎn)品規(guī)格

物品	規(guī)格
電源	AC100V（單相100V 10A）3P帶地插頭1口
旋轉(zhuǎn)泵	10L/min（裝置內(nèi)置）
設(shè)備尺寸	寬200mm x 深350mm x 高345mm （設(shè)備重量：14.6Kg）
樣品室尺寸	內(nèi)徑120mm x 高65mm（硬玻璃）
樣品臺尺寸	直徑50mm（浮動(dòng)法）
電極-樣品臺距離	35mm（使用輔助樣品臺時(shí)為25mm）
靶電極	內(nèi)置永磁體的磁控管型靶電極
目標(biāo)金屬規(guī)格	Φ51mm，厚度0.1mm Pt、Pt-Pd、Au、Au-Pd、Ag