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  • 日本透明樹脂黑粒去除機-色選機

    日本透明樹脂黑粒去除機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1890    

  • 日本塑料雜質(zhì)粒子色選機

    日本塑料雜質(zhì)粒子色選機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1782    

  • 帶有瑕疵點的塑料粒子色選機

    日本帶有瑕疵點的塑料粒子色選機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1713    

  • 日本進口塑料粒子黑點色選機TS-7400TH

    日本進口塑料粒子黑點色選機TS-7400TH AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:2397    

  • 片劑,膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW

    日本anritsu片劑,膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW 降低金屬探測器的穩(wěn)定性主要原因是,會擾亂金屬探測器磁場的振動、靜電和來自外圍設(shè)備的噪音等。安立的醫(yī)藥行業(yè)金屬探測器,通過加強針對這些原因的耐性,從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的高靈敏度檢測。

    更新日期:2025-05-02    訪問量:1816    

  • 日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E

    日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E 非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型 超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1405    

  • 日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D

    日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D 自動測量超低電阻的理想之選 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。 取消熱電動勢效應(yīng)的測量 脈沖測量電流,減少測量端子自熱和磨損

    更新日期:2024-03-20    訪問量:2309    

  • 日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E

    日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E 內(nèi)置換檔電磁閥電源:DC12V(2A)、24V(1A)/脈沖輸出(2A) 內(nèi)置無缺陷計數(shù)器

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1249    

  • 日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L

    日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L 超小尺寸芯片 (0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...) 兼容精密電阻! 適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機和編帶機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1194    

  • 日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

    日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1218    

  • AE-162L兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器

    日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭(0201、03015)兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1112    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

    日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片(低功耗測量) 超高速 0.7msec.(代表值)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1124    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D

    日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1150    

  • 日本imt獨立負(fù)載型自動拋光機 Rana-3

    日本imt獨立負(fù)載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式,可自由設(shè)置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉(zhuǎn)數(shù),所以可以在相同的轉(zhuǎn)數(shù)下對支架和盤進行拋光,并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉(zhuǎn)。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1335    

  • 日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2

    日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2 用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉(zhuǎn)機。 拋光非嵌入樣品時,可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上,實現(xiàn)自動拋光。 非常適合長時間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1552    

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