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DewStar R-1 系列分體式鏡面冷卻露點(diǎn)儀
日本shinyei分體式鏡面冷卻露點(diǎn)儀DewStar R-1 系列 DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/濕度測(cè)量法”認(rèn)定為標(biāo)準(zhǔn)濕度計(jì)的高精度、高可靠性的鏡面冷卻露點(diǎn)計(jì)。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：2237
日本yutaka微球外徑檢測(cè)裝置YSW-2R 我們?cè)谝患揖芰慵z測(cè)設(shè)備制造商，如滾輪外徑分選機(jī)、激光分選機(jī)、CCD光學(xué)分選機(jī)等經(jīng)過(guò)10年的研發(fā)，介紹了超精密滾輪式球外徑分選機(jī)的成功技術(shù)開(kāi)發(fā)和商業(yè)化。直徑分選機(jī)YSW-2R，可實(shí)現(xiàn)連續(xù)無(wú)人自動(dòng)操作和99%檢查，非常適合球、錫球等球體外徑分選。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1579
在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RM 測(cè)厚儀
日本YAMABUN山文電氣在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測(cè)量厚度而非基重 座椅制造過(guò)程中的全寬測(cè)量 無(wú)需許可證、許可證或創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線即可輕松操作
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1407
日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺(tái)式測(cè)厚儀TOF-M 測(cè)量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動(dòng) 通過(guò)自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量重復(fù)性 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1554
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S 實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量 僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1345
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺(tái)式電容式測(cè)厚儀TOF-C2 高測(cè)量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測(cè)量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測(cè)量。 基重測(cè)量 操作簡(jiǎn)單（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能）
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1450
TOF-4R05臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測(cè)量方法接觸式/線性規(guī) 測(cè)量對(duì)象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等） 測(cè)量原理線規(guī)
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1380
TOF-4R05臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-5R01
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-5R01 簡(jiǎn)單快速的離線厚度測(cè)量 測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上 由于是自動(dòng)運(yùn)輸測(cè)量，測(cè)量數(shù)據(jù)不存在個(gè)體差異。 也可用于調(diào)整雷達(dá)圖上的充氣膜。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1408
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-4R05 簡(jiǎn)單快速的離線厚度測(cè)量 測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上 測(cè)量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1420
F60對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀
日本filmetrics對(duì)準(zhǔn)自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F60 F60自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是F50的高duan機(jī)型，具有缺口檢測(cè)、自動(dòng)基線功能和互鎖機(jī)制。 只需將樣品放在載物臺(tái)上，然后單擊測(cè)量按鈕即可自動(dòng)執(zhí)行對(duì)齊、基線和膜厚映射。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1594
F50自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀
日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50 F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。 以過(guò)去無(wú)法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測(cè)量點(diǎn)。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：2054
F3-CS日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀
日本filmetrics臺(tái)式膜厚測(cè)量系統(tǒng)F3-CS F3-CS是測(cè)量小樣品的測(cè)量系統(tǒng)。與測(cè)量臺(tái)集成的測(cè)量系統(tǒng)使其易于攜帶。 只需將樣品的測(cè)量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測(cè)量，約1秒即可測(cè)量出膜厚和折射率。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1624
日本filmetrics板厚測(cè)量系統(tǒng)F3-sX 可以高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度。 通過(guò)安裝初開(kāi)發(fā)的具有高波長(zhǎng)分辨率的光譜儀，可以測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1586
F10-RT反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT F10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。 只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無(wú)需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡(jiǎn)單。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1471
日本filmetrics膜厚測(cè)量系統(tǒng)F20 一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、低價(jià)、多功能的臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，已在安裝了 5,000 多臺(tái)。它可用于從研發(fā)到制造現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量的廣泛應(yīng)用。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1858
